Recent Advances in Pattern Recognition
Thank you. Registration is full.
A. Aderem, S. Agrawal, S. Akira, B. Beutler, A. Bowie, G. Brown, S. Cherry, A. Coyle, A. Ding, M. Dionne, V. Dixit, A. Ezekowitz, D. Ferrandon, R. Finberg, L. Fouser, N. Gay, R. Gazzinelli, C. Genco, S. Ghosh, D. Golenbock, A. Hise, J. Hoffmann, V. Hornung, J. Imler, A. Iwasaki, C. Karp, A. Krieg, S. Kurata, E. Latz, J. Lee, B. Lemaitre, E. Levashina, O. Levy, X. Li, E. Lien, G. W. Litman, A. Luster, A. Mansell, A. Marshak-Rothstein, R. Medzhitov, C. Mello, K. Miyake, K. Moore, Y. Morel, M. Netea, G. Nunez, L. O’Neill, M. O’Riordan, Z. Pancer, D. Philpott, H. Ploegh, D. Portnoy, F. Re, C. Reis e Sousa, K. Rock, A. Sher, N. Silverman, M. Soares, L. Stuart, T. Taniguchi, P. Tobias, J. Tschopp, S. Vogel, H. Wagner, J, Weiss, S. Wright